{"id":11186,"date":"2026-04-20T02:00:47","date_gmt":"2026-04-19T18:00:47","guid":{"rendered":"https:\/\/toquartz.com\/?p=11186"},"modified":"2026-02-25T15:32:50","modified_gmt":"2026-02-25T07:32:50","slug":"how-to-validate-a-quartz-96-well-plate-for-accurate-uv-absorbance-data","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/toquartz.com\/tr\/how-to-validate-a-quartz-96-well-plate-for-accurate-uv-absorbance-data\/","title":{"rendered":"Do\u011fru UV Absorbans Verileri i\u00e7in Quartz 96 Kuyulu Plaka Nas\u0131l Do\u011frulan\u0131r?"},"content":{"rendered":"

\u00c7o\u011fu laboratuvar, plaka okuyucular\u0131n varsay\u0131lan olarak do\u011fru UV verileri sa\u011flad\u0131\u011f\u0131n\u0131 varsayar; ancak do\u011frulanmam\u0131\u015f kuvars mikroplakalardan kaynaklanan sistematik hatalar, n\u00fckleik asit ve protein miktar belirleme i\u015f ak\u0131\u015flar\u0131n\u0131 rutin olarak tehlikeye atmaktad\u0131r.<\/p>\n

Do\u011frulama kuvars 96 kuyucuklu plakalar<\/a> i\u00e7in 260 nm ve 280 nm'de UV absorbans\u0131, d\u00fczenlenmi\u015f veya hassas-kritik ortamlarda iste\u011fe ba\u011fl\u0131 de\u011fildir. Bu makale, optik fizik, cihaz ba\u011flant\u0131s\u0131, yol uzunlu\u011fu kalibrasyonu, do\u011frusall\u0131k, hassasiyet, do\u011fruluk, proteine \u00f6zg\u00fc hususlar, temizlik kalifikasyonu ve dok\u00fcmantasyonu kapsayan eksiksiz, ad\u0131m ad\u0131m bir do\u011frulama \u00e7er\u00e7evesi sunar - tek bir okuma, uyumlu ve tekrarlanabilir bir protokol y\u00fcr\u00fctmek i\u00e7in gereken her cevab\u0131 sa\u011flayacak \u015fekilde yap\u0131land\u0131r\u0131lm\u0131\u015ft\u0131r.<\/p>\n

Takip eden b\u00f6l\u00fcmler kat\u0131 deneysel mant\u0131kla ilerlemektedir: fiziksel gerek\u00e7e cihaz de\u011ferlendirmesinden \u00f6nce gelir, cihaz de\u011ferlendirmesi temel nicelik belirlemeden \u00f6nce gelir ve kalibrasyon do\u011frulama \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131n\u0131n kendisinden \u00f6nce gelir. Her b\u00f6l\u00fcm do\u011frudan bir \u00f6ncekinin \u00fczerine in\u015fa edilir ve hi\u00e7bir prosed\u00fcrel ad\u0131m\u0131n \u00f6n ko\u015fulu olu\u015fturulmadan y\u00fcr\u00fct\u00fclmemesini sa\u011flar.<\/p>\n

\n

\"Molek\u00fcler<\/p>\n

Quartz 96 Kuyulu Plakalar Neden \u00d6zel Bir Do\u011frulama Protokol\u00fc Gerektirir?<\/h2>\n

Y\u00fcksek hassasiyetli UV i\u015f ak\u0131\u015flar\u0131nda de\u011ferlendirilen t\u00fcm mikroplaka substrat malzemeleri aras\u0131nda, erimi\u015f silika s\u00fcrekli olarak farkl\u0131 bir optik kategoride yer al\u0131r ve bu ayr\u0131m, genel plaka okuyucu protokollerinin basit\u00e7e ele almak i\u00e7in tasarlanmad\u0131\u011f\u0131 \u00f6l\u00e7\u00fcm de\u011fi\u015fkenleri yarat\u0131r.<\/p>\n

Erimi\u015f Silikan\u0131n Borosilikat ve Plastik Y\u00fczeylere Kar\u015f\u0131 Optik Davran\u0131\u015f\u0131<\/h3>\n

Erimi\u015f silika, UV radyasyonunu 190-400 nm aral\u0131\u011f\u0131nda a\u015fan bir ge\u00e7irgenlikle iletir 260 nm'de 92%<\/strong>Ne borosilikat cam\u0131n ne de standart polistirenin kopyalayamayaca\u011f\u0131 bir performans penceresi. Borosilikat cam, UV emiliminde keskin bir kesinti sergiler. 310 nm<\/strong>Bu da \u00f6zel kaplamalar olmadan 260 nm'de n\u00fckleik asit tespiti i\u00e7in i\u015flevsel olarak opak hale getirir. Standart mikroplakalarda bask\u0131n malzeme olan polistiren, 260 nm'nin alt\u0131nda g\u00fc\u00e7l\u00fc bir \u015fekilde emilir. 320 nm<\/strong> ve g\u00f6r\u00fcn\u00fcr absorbans okumalar\u0131n\u0131 \u015fu \u015fekilde \u015fi\u015firen bir otofloresans arka plan\u0131 olu\u015fturur 0,05-0,15 AU<\/strong> uyarma geometrisine ba\u011fl\u0131 olarak.<\/p>\n

Bu malzeme kontrast\u0131n\u0131n sonucu kritiktir: polistiren veya borosilikat plakalar i\u00e7in geli\u015ftirilen do\u011frulama protokolleri, kuvars 96 kuyucuklu plaka sistemlerine aktar\u0131lmayan substrat ge\u00e7irgenli\u011fi, otofloresans ve y\u00fczey kimyas\u0131 ile ilgili varsay\u0131mlar\u0131 kodlar. Polistiren ile do\u011frulanm\u0131\u015f bir protokol\u00fcn yeniden do\u011frulama yap\u0131lmadan erimi\u015f bir silika plakaya uygulanmas\u0131, 320 nm'nin alt\u0131ndaki her dalga boyunda \u00f6l\u00e7\u00fclmemi\u015f sistematik hata ortaya \u00e7\u0131kar\u0131r.<\/strong> Bu ikame hatas\u0131n\u0131 karakterize eden laboratuvarlar, A260'\u0131n belirgin sapmalar\u0131n\u0131 rapor etmi\u015flerdir. 3-8%<\/strong> k\u00fcvet tabanl\u0131 referans \u00f6l\u00e7\u00fcmlerine g\u00f6re - DNA safl\u0131\u011f\u0131n\u0131 yanl\u0131\u015f s\u0131n\u0131fland\u0131rmak veya sonraki uygulamalarda RNA konsantrasyonunu yanl\u0131\u015f tahmin etmek i\u00e7in yeterli bir b\u00fcy\u00fckl\u00fck.<\/p>\n

Ayr\u0131ca, erimi\u015f silikan\u0131n k\u0131r\u0131lma indisi (589 nm'de n \u2248 1,46<\/strong>) polistirenden (n \u2248 1.59<\/strong>), kuyu taban\u0131ndaki i\u00e7 yans\u0131ma geometrisini de\u011fi\u015ftirir ve nominal dolgu hacimleri ayn\u0131 olsa bile etkili yol uzunlu\u011funda \u00f6l\u00e7\u00fclebilir bir sapma meydana getirir.<\/p>\n

Kuyu Pozisyonlar\u0131 Aras\u0131nda Optik Yol Uzunlu\u011funda Partiden Partiye De\u011fi\u015fkenlik<\/h3>\n

Kuvars 96 kuyucuklu plaka \u00fcretimindeki \u00fcretim toleranslar\u0131, plaka okuyucunun dedekt\u00f6r\u00fc taraf\u0131ndan g\u00f6r\u00fclen optik yol uzunlu\u011funu do\u011frudan mod\u00fcle eden kuyu taban\u0131 d\u00fczlemselli\u011fi ve duvar kal\u0131nl\u0131\u011f\u0131nda boyutsal farkl\u0131l\u0131klara neden olur. Tek bir plaka boyunca, kuyu taban\u0131 kal\u0131nl\u0131\u011f\u0131 varyasyonu \u00b115-25 \u00b5m<\/strong> ticari olarak temin edilebilen erimi\u015f silika plakalarda profilometrik inceleme ile \u00f6l\u00e7\u00fclm\u00fc\u015ft\u00fcr - bu aral\u0131k, g\u00f6r\u00fcn\u00fcr absorbans de\u011fi\u015fkenli\u011fi \u00b10.008-0.012 AU<\/strong> 0,5 A260 de\u011ferinde.<\/p>\n

Ayn\u0131 \u00fcreticinin \u00fcretim partileri aras\u0131nda bu de\u011fi\u015fkenlik 40 \u00b5m'yi a\u015fabilir<\/strong>\u00f6zellikle de plaka optik parlatma yerine hassas ta\u015flama ile \u00fcretildi\u011finde. Beer-Lambert hesaplamalar\u0131 sabit, bilinen bir yol uzunlu\u011fu varsayd\u0131\u011f\u0131ndan, kuyu taban\u0131 geometrisindeki telafi edilmemi\u015f herhangi bir varyasyon, o plaka \u00fczerinde ger\u00e7ekle\u015ftirilen her \u00f6l\u00e7\u00fcmde orant\u0131l\u0131 konsantrasyon hatas\u0131 ortaya \u00e7\u0131kar\u0131r. Bu nedenle partiye \u00f6zg\u00fc karakterizasyon \u00f6nerilen bir uygulama de\u011fil, bir \u00f6n ko\u015fuldur.<\/p>\n

\u00c7ok partili plaka kalifikasyon \u00e7al\u0131\u015fmalar\u0131ndan elde edilen ampirik veriler \u015funu g\u00f6stermektedir konumsal yanl\u0131l\u0131k - belirli kuyu sat\u0131rlar\u0131n\u0131n veya s\u00fctunlar\u0131n\u0131n plaka ortalamas\u0131ndan s\u00fcrekli olarak daha y\u00fcksek veya daha d\u00fc\u015f\u00fck okuma sistematik e\u011filimi - bir parti i\u00e7inde tekrarlanabilir ancak partiler aras\u0131nda tahmin edilemez<\/strong>. Bu bulgu, parti baz\u0131nda do\u011frulanm\u0131\u015f tek bir yol uzunlu\u011fu d\u00fczeltme tablosunun yeniden \u00f6l\u00e7\u00fcm yap\u0131lmadan yeni bir \u00fcretim partisine g\u00fcvenle uygulanamayaca\u011f\u0131n\u0131 do\u011frulamaktad\u0131r.<\/p>\n

\u00c7ok Kuyulu Plaka Okuyucularda Cihaz-Plaka Ba\u011flant\u0131s\u0131 De\u011fi\u015fkenli\u011fi<\/h3>\n

Plaka okuyucu mimarisi, plaka malzemesinden ba\u011f\u0131ms\u0131z ikinci bir de\u011fi\u015fkenlik ekseni ortaya \u00e7\u0131kar\u0131r. Lamba odak noktas\u0131 ile s\u0131v\u0131 menisk\u00fcs\u00fc aras\u0131ndaki dikey mesafe, toplama opti\u011finin f say\u0131s\u0131 ve plaka ta\u015f\u0131y\u0131c\u0131s\u0131n\u0131n mekanik Z-y\u00fckseklik kalibrasyonu cihaz modelleri aras\u0131nda ve - otomatik Z-odaklamas\u0131 olmayan cihazlarda - ayn\u0131 modelin m\u00fcnferit birimleri aras\u0131nda de\u011fi\u015fiklik g\u00f6sterir.<\/p>\n

Nano-Grating monokromat\u00f6rl\u00fc Tecan Spark cihazlar\u0131 \u015fu spektral bant geni\u015fli\u011finde \u00e7al\u0131\u015f\u0131r 1 nm<\/strong> y\u00fcksek \u00e7\u00f6z\u00fcn\u00fcrl\u00fck modunda \u00e7al\u0131\u015f\u0131rken, BioTek Synergy HTX cihazlar\u0131 2-4 nm<\/strong> filtre \u00e7ark\u0131 konfig\u00fcrasyonuna ba\u011fl\u0131 olarak. 260 nm merkezli 4 nm bant geni\u015fli\u011finde, 50 ng\/\u00b5L dsDNA \u00f6rne\u011finin g\u00f6r\u00fcn\u00fcr A260 de\u011feri, 1 nm bant geni\u015fli\u011fi \u00f6l\u00e7\u00fcm\u00fcne g\u00f6re yakla\u015f\u0131k 4-6% ile sistematik olarak d\u00fc\u015f\u00fck tahmin edilir<\/strong>\u00c7\u00fcnk\u00fc dsDNA'n\u0131n 258 nm'deki absorpsiyon piki, pik d\u0131\u015f\u0131 \u0131\u015f\u0131k katk\u0131lar\u0131yla seyreltilecek kadar spektral olarak dard\u0131r. Cihaza ba\u011fl\u0131 bu spektral bozulma do\u011frulama s\u0131ras\u0131nda karakterize edilmelidir ve ayn\u0131 marka okuyucular aras\u0131nda sabit oldu\u011fu varsay\u0131lamaz.<\/p>\n

\n

Kuvars 96 Kuyulu Plaka i\u00e7in Cihaz Uyumluluk De\u011ferlendirmesi<\/h3>\n

Herhangi bir numune UV \u00f6l\u00e7\u00fcm\u00fc i\u00e7in bir kuartz 96 kuyucuklu plakaya pipetlenmeden \u00f6nce, ama\u00e7lanan plaka okuyucunun fiziksel ve fotometrik \u00f6zellikleri tahlilin performans gerekliliklerine g\u00f6re do\u011frulanmal\u0131d\u0131r.<\/p>\n

Spektral Bant Geni\u015fli\u011fi ve 260 ve 280 nm'de Dalga Boyu Do\u011frulu\u011fu Gereksinimleri<\/h3>\n

\u00c7ift sarmall\u0131 DNA'n\u0131n absorpsiyon maksimum de\u011feri 258 nm<\/strong>'ye yak\u0131n pik yaparken, tek iplikli RNA 260-261 nm<\/strong>protein miktar tayini i\u00e7in 280 nm'de kullan\u0131lan aromatik amino asit absorpsiyonu, yakla\u015f\u0131k olarak yar\u0131 geni\u015fli\u011fe sahip daha geni\u015f bir banda kar\u015f\u0131l\u0131k gelir 20 nm<\/strong>. Bu spektral \u00f6zellikler, her bir uygulama i\u00e7in kuvars 96 kuyucuklu plaka ile kullan\u0131lan plaka okuyucuya farkl\u0131 bant geni\u015fli\u011fi tolerans gereksinimleri getirir.<\/p>\n

N\u00fckleik asit miktar\u0131n\u0131n 260 nm'de belirlenmesi i\u00e7in, A260 \u00f6l\u00e7\u00fcm hatas\u0131n\u0131 3%'nin alt\u0131nda tutmak i\u00e7in \u22642 nm spektral bant geni\u015fli\u011fi gereklidir<\/strong>. 4 nm bant geni\u015fli\u011finde, etkin absorbans azal\u0131r \u00e7\u00fcnk\u00fc pik d\u0131\u015f\u0131 dalga boylar\u0131 ortalama sinyale daha d\u00fc\u015f\u00fck absorpsiyon katsay\u0131lar\u0131 katar. 1 nm bant geni\u015fli\u011finde, dalga boyu do\u011frulu\u011fu bask\u0131n hata terimi haline gelir ve 260 nm ayar noktas\u0131n\u0131n a\u015fa\u011f\u0131dakilerden daha fazla sapmad\u0131\u011f\u0131n\u0131 do\u011frulamak i\u00e7in cihazlar sertifikal\u0131 bir holmiyum oksit dalga boyu standard\u0131na (NIST SRM 2034 veya e\u015fde\u011feri) g\u00f6re do\u011frulanmal\u0131d\u0131r \u00b10,5 nm<\/strong>. 260 nm'de 1 nm dalga boyu kaymas\u0131 yakla\u015f\u0131k A260 hatas\u0131 \u00fcretir 1.2-1.8%<\/strong> dsDNA \u00f6rne\u011fi i\u00e7in 100 ng\/\u00b5L.<\/p>\n

Dalga boyu do\u011frulu\u011fu do\u011frulamas\u0131, \u00fcreticinin fabrika kalibrasyon sertifikas\u0131ndan varsay\u0131lmamal\u0131, plaka okumas\u0131 i\u00e7in kullan\u0131lan ger\u00e7ek cihaz \u00fczerinde ger\u00e7ekle\u015ftirilmelidir<\/strong>\u00c7\u00fcnk\u00fc yeniden kalibrasyon yap\u0131lmadan 18 aydan uzun s\u00fcre \u00e7al\u0131\u015fan cihazlarda 0,3-0,8 nm'lik monokromat\u00f6r kaymas\u0131 belgelenmi\u015ftir.<\/p>\n

Alttan Okumal\u0131 ve \u00dcstten Okumal\u0131 Optik Yol Geometrisi<\/h3>\n

Alttan okumal\u0131 plaka okuyucular optik \u0131\u015f\u0131n\u0131 kuyu taban\u0131na y\u00f6nlendirir, yani \u00f6l\u00e7\u00fclen yol uzunlu\u011fu kuyu taban\u0131n\u0131n \u00fczerindeki s\u0131v\u0131 s\u00fctunu y\u00fcksekli\u011fini ve herhangi bir menisk\u00fcs katk\u0131s\u0131n\u0131 i\u00e7erir. \u00dcstten okuma geometrisi, \u0131\u015f\u0131n\u0131 menisk\u00fcs boyunca ve t\u00fcm s\u0131v\u0131 s\u00fctunu boyunca a\u015fa\u011f\u0131ya do\u011fru y\u00f6nlendirir, \u0131\u015f\u0131n kar\u015f\u0131 taraftaki s\u0131v\u0131-hava aray\u00fcz\u00fcnde sonlan\u0131r veya baz\u0131 konfig\u00fcrasyonlarda plaka ta\u015f\u0131y\u0131c\u0131s\u0131ndan yans\u0131r.<\/p>\n

Alttan okuma modunda, kuvars 96 kuyucuklu plakan\u0131n kuyu-alt kal\u0131nl\u0131\u011f\u0131, cam kal\u0131nl\u0131\u011f\u0131na ve UV dalga boyuna ba\u011fl\u0131 olarak yakla\u015f\u0131k 0,003-0,008 AU'luk sabit bir absorbans ofseti ekleyerek toplam optik yola do\u011frudan katk\u0131da bulunur.<\/strong> Bu ofset, blank d\u00fczeltmesi s\u0131ras\u0131nda \u00e7\u0131kar\u0131lmal\u0131d\u0131r. Ayn\u0131 plaka ve \u00e7al\u0131\u015fmada hacim uyumlu bir blank kullan\u0131lmamas\u0131, bu ofseti t\u00fcm numune okumalar\u0131nda sistematik bir pozitif sapma olarak yayacakt\u0131r.<\/p>\n

\u00dcstten okuma geometrisi kuyu taban\u0131 katk\u0131s\u0131n\u0131 \u00f6nler, ancak menisk\u00fcsle ilgili yol uzunlu\u011fu belirsizli\u011fini ortaya \u00e7\u0131kar\u0131r \u00b12-5%<\/strong> Hidrofilik erimi\u015f silika kuyularda sulu tamponlar\u0131n olu\u015fturdu\u011fu d\u0131\u015fb\u00fckey menisk\u00fcs, kuyu duvarlar\u0131na g\u00f6re plaka merkezindeki etkili yolu azaltt\u0131\u011f\u0131 i\u00e7in 100 \u00b5L'nin alt\u0131ndaki dolum hacimlerinde. Do\u011frulama, \u00fcstten okuma moduna ge\u00e7meden \u00f6nce planlanan dolum hacmi aral\u0131\u011f\u0131nda bir menisk\u00fcs etkisi karakterizasyonu i\u00e7ermelidir.<\/p>\n

S\u0131cakl\u0131k Kontrol\u00fc ve Nemin UV Okumalar\u0131 \u00dczerindeki Etkileri<\/h3>\n

Erimi\u015f silikan\u0131n termal genle\u015fmesi do\u011frusal bir katsay\u0131 ile karakterize edilir 0.55 \u00d7 10-\u2076 \/\u00b0C<\/strong> - Borosilikat camdan yakla\u015f\u0131k 8 kat daha d\u00fc\u015f\u00fckt\u00fcr - yani cihaz haznesindeki s\u0131cakl\u0131k de\u011fi\u015fimine ba\u011fl\u0131 olarak kuvars plakadaki boyutsal de\u011fi\u015fiklikler, \u00e7o\u011fu tahlil ink\u00fcbasyonunda kullan\u0131lan 20-37\u00b0C aral\u0131\u011f\u0131nda ihmal edilebilir d\u00fczeydedir.<\/p>\n

Ancak, kuvars mikroplaka UV testlerinde birincil termal endi\u015fe plakan\u0131n genle\u015fmesi de\u011fil, s\u0131v\u0131n\u0131n buharla\u015fmas\u0131d\u0131r<\/strong>. 40% ba\u011f\u0131l nem oran\u0131n\u0131n alt\u0131nda oda nemine sahip 37\u00b0C'de, \u00fczeri a\u00e7\u0131k 100 \u00b5L'lik bir kuyu yakla\u015f\u0131k Saat ba\u015f\u0131na 0,8-1,2 \u00b5L<\/strong> buharla\u015fma yoluyla s\u0131v\u0131 s\u00fctun y\u00fcksekli\u011fini azalt\u0131r ve bir zaman ak\u0131\u015f\u0131 \u00f6l\u00e7\u00fcm\u00fc s\u0131ras\u0131nda etkili yol uzunlu\u011funu azalt\u0131r. \u0130\u00e7 \u00e7ap\u0131 6,35 mm olan bir kuyuda 1,1 \u00b5L'lik bir yol uzunlu\u011fu azalmas\u0131 yakla\u015f\u0131k olarak 35 \u00b5m<\/strong> s\u00fctun y\u00fcksekli\u011fi kayb\u0131, g\u00f6r\u00fcn\u00fcr A260 azalmas\u0131na neden olur. 0.007-0.010 AU<\/strong> bir saat boyunca - tipik tahlil konsantrasyonlar\u0131nda DNA konsantrasyonunun ~2,5 ng\/\u00b5L eksik tahminine e\u015fde\u011ferdir. Onaylanm\u0131\u015f protokollerde plakan\u0131n \u00fczerinin kapat\u0131l\u0131p kapat\u0131lmad\u0131\u011f\u0131, ink\u00fcbasyon s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131 ve izin verilen maksimum \u00f6l\u00e7\u00fcm s\u00fcresi belirtilmelidir<\/strong> Buharla\u015fman\u0131n zamana ba\u011fl\u0131 sapmaya yol a\u00e7mas\u0131n\u0131 \u00f6nlemek i\u00e7in.<\/p>\n

Cihaz Uyumluluk Parametreleri<\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Parametre<\/th>\nN\u00fckleik Asit (260 nm)<\/th>\nProtein (280 nm)<\/th>\nKabul E\u015fi\u011fi<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
Spektral bant geni\u015fli\u011fi (nm)<\/td>\n\u22642<\/td>\n\u22644<\/td>\nYukar\u0131daki ba\u015fvuru ba\u015f\u0131na<\/td>\n<\/tr>\n
Dalga boyu do\u011frulu\u011fu (nm)<\/td>\n\u00b10.5<\/td>\n\u00b11.0<\/td>\nNIST SRM 2034 do\u011fruland\u0131<\/td>\n<\/tr>\n
Z-y\u00fcksekli\u011fi tekrar \u00fcretilebilirli\u011fi (\u00b5m)<\/td>\n\u00b150<\/td>\n\u00b150<\/td>\n\u00dcretici \u00f6zellikleri<\/td>\n<\/tr>\n
Okuma modu<\/td>\nAlt tercih<\/td>\nAlt tercih<\/td>\nBo\u015f e\u015fle\u015fmeli<\/td>\n<\/tr>\n
Oda nemi (%RH)<\/td>\n50-70<\/td>\n50-70<\/td>\nKapakl\u0131 tabak tercih edilir<\/td>\n<\/tr>\n
S\u0131cakl\u0131k kararl\u0131l\u0131\u011f\u0131 (\u00b0C)<\/td>\n\u00b10.5<\/td>\n\u00b10.5<\/td>\n\u00d6n dengeleme \u226515 dakika<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n
\n

\"Hassas<\/p>\n

Plaka Boyunca Temel Absorbans Tekd\u00fczeli\u011finin Olu\u015fturulmas\u0131<\/h2>\n

T\u00fcm 96 kuyu pozisyonlar\u0131nda fotometrik homojenlik, sonraki t\u00fcm konsantrasyon hesaplamalar\u0131n\u0131n dayand\u0131\u011f\u0131 nicel temeldir; karakterize edilmi\u015f, d\u00fc\u015f\u00fck CV'li bir taban \u00e7izgisi olmadan, plakadan toplanan herhangi bir absorbans verisi \u00e7\u00f6z\u00fclmemi\u015f bir uzamsal belirsizlik ta\u015f\u0131r.<\/p>\n

Referans Olarak Ultra Saf Su Kullanarak Bo\u015f \u00c7\u0131karma Protokol\u00fc<\/h3>\n

UV plaka analizlerinde bo\u015f \u00e7\u0131karma i\u00e7in kullan\u0131lan referans s\u0131v\u0131 ayn\u0131 anda iki kriteri kar\u015f\u0131lamal\u0131d\u0131r: \u00f6l\u00e7\u00fcm dalga boyu aral\u0131\u011f\u0131 boyunca \u015feffaf olmal\u0131 ve menisk\u00fcs geometrisindeki sistematik farkl\u0131l\u0131klar\u0131 \u00f6nlemek i\u00e7in numune tamponunun k\u0131r\u0131lma indisine yeterince yak\u0131n olmal\u0131d\u0131r. Ultra saf su (diren\u00e7 \u226518,2 M\u03a9-cm, TOC \u22645 ppb) sulu n\u00fckleik asit ve protein tamponlar\u0131 i\u00e7in her iki kriteri de kar\u015f\u0131lar ve 260 ve 280 nm'de absorbans \u00f6l\u00e7\u00fcmleri i\u00e7in uluslararas\u0131 kabul g\u00f6rm\u00fc\u015f bo\u015f referanst\u0131r.<\/strong><\/p>\n

Bo\u015f y\u00fckleme s\u0131ras\u0131nda pipetleme hassasiyeti, taban \u00e7izgisi homojenli\u011fi \u00fczerinde orant\u0131s\u0131z bir etkiye sahiptir. 100 \u00b5L'lik bir dolum hacmi, bir \u00b10,5 \u00b5L<\/strong> do\u011frulu\u011fu yakla\u015f\u0131k olarak bir yol uzunlu\u011fu belirsizli\u011fine kar\u015f\u0131l\u0131k gelir \u00b116 \u00b5m<\/strong> - 'nin kuyular aras\u0131 A260 varyasyonunun \u00fcretilmesi \u00b10,0005 AU<\/strong> yaln\u0131zca pipetlemeye atfedilebilir, bu da kabul edilebilir temel g\u00fcr\u00fclt\u00fc dahilindedir. Bununla birlikte, u\u00e7tan uca hacim varyasyonu a\u015fa\u011f\u0131dakileri a\u015fan \u00e7ok kanall\u0131 pipetler kullan\u0131ld\u0131\u011f\u0131nda \u00b12 \u00b5L<\/strong> kullan\u0131ld\u0131\u011f\u0131nda, ortaya \u00e7\u0131kan temel CV 0,8-1,2%<\/strong> numuneyle ilgili herhangi bir varyasyon ortaya \u00e7\u0131kmadan \u00f6nce. Bu nedenle, kuvars 96 kuyucuklu plaka taban \u00e7izgisi karakterizasyonunda blank haz\u0131rlama i\u00e7in kalibre edilmi\u015f, ayr\u0131 ayr\u0131 test edilmi\u015f u\u00e7lar veya s\u0131v\u0131 i\u015fleme robotu aspirasyonlar\u0131 \u00f6nerilir.<\/p>\n

Bo\u015f plakan\u0131n en az 10 dakika boyunca cihaz s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131na dengelenmesine izin verilmelidir<\/strong> Y\u00fcklemeden hemen sonra so\u011fuk bir plaka okundu\u011funda plaka boyunca 0,003 AU'ya kadar g\u00f6r\u00fcn\u00fcr A260 de\u011fi\u015fimlerine neden olabilen su s\u00fctunundaki termal olarak ind\u00fcklenen k\u0131r\u0131lma indisi gradyanlar\u0131n\u0131 ortadan kald\u0131rmak i\u00e7in \u00f6l\u00e7\u00fcmden \u00f6nce.<\/p>\n

Kuyular Aras\u0131 CV i\u00e7in 260 nm'de Kabul Kriterleri<\/h3>\n

Bo\u015f plaka absorbans matrisi elde edildikten sonra, 96 kuyunun tamam\u0131ndaki varyasyon katsay\u0131s\u0131 (CV), standart sapman\u0131n ortalama absorbansa oran\u0131 olarak hesaplan\u0131r ve y\u00fczde olarak ifade edilir. Onaylanm\u0131\u015f bir test ortam\u0131nda iyi karakterize edilmi\u015f bir kuvars 96 kuyucuklu plaka i\u00e7in 260 nm'de kuyular aras\u0131 bo\u015f CV 2,0%'yi a\u015fmamal\u0131d\u0131r.<\/strong>n\u00fckleik asitlerin 10 ng\/\u00b5L'nin alt\u0131ndaki konsantrasyonlarda y\u00fcksek hassasiyetli miktar tayini i\u00e7in daha s\u0131k\u0131 bir e\u015fik \u22641.0% CV<\/strong> uygundur, \u00e7\u00fcnk\u00fc bu konsantrasyonlardaki sinyal-arka plan oran\u0131 temel g\u00fcr\u00fclt\u00fcy\u00fc bask\u0131n bir belirsizlik kayna\u011f\u0131 haline getirir.<\/p>\n

'den daha fazla sapma g\u00f6steren absorbans de\u011ferleri sergileyen kuyular Kuyular aras\u0131 standart sapman\u0131n 3 kat\u0131<\/strong> plaka ortalamas\u0131ndan farkl\u0131 olanlar ayk\u0131r\u0131 de\u011ferler olarak i\u015faretlenir ve sonraki numune y\u00fcklemelerinden hari\u00e7 tutulur. Blank a\u015famas\u0131nda tek tek kuyu ayk\u0131r\u0131 de\u011ferlerinin yayg\u0131n nedenleri \u015funlard\u0131r kuyu taban\u0131ndaki mikroskobik kal\u0131nt\u0131lar, \u00fcretimden kalan kirleticiler, dolum s\u0131ras\u0131nda s\u0131k\u0131\u015fan hava mikro kabarc\u0131klar\u0131 ve erimi\u015f silika taban \u00fczerinde lokalize y\u00fczey \u00e7izikleri<\/strong>. 96 kuyucuklu bir plakada 4'ten fazla kuyucuk ayk\u0131r\u0131 de\u011fer kriterini kar\u015f\u0131layamad\u0131\u011f\u0131nda, bu model tipik olarak bir \u00fcretim hatas\u0131n\u0131 veya yanl\u0131\u015f depolamay\u0131 g\u00f6sterdi\u011finden plaka kullan\u0131mdan \u00e7\u0131kar\u0131l\u0131r.<\/p>\n

\u00d6zellikle, kenar kuyular (s\u00fctun 1, s\u00fctun 12, sat\u0131r A, sat\u0131r H) s\u00fcrekli olarak 5-15% daha y\u00fcksek bo\u015f CV<\/strong> s\u0131cakl\u0131k gradyanlar\u0131na ve plaka \u00e7evresindeki buharla\u015fma oranlar\u0131na atfedilebilecek \u015fekilde, birden fazla plaka markas\u0131nda i\u00e7 kuyulara k\u0131yasla. Kantitatif analizler i\u00e7in protokol tasar\u0131mlar\u0131, numune konumlar\u0131ndan kenar kuyular\u0131 hari\u00e7 tutmay\u0131 veya bu temel karakterizasyon ad\u0131m\u0131 s\u0131ras\u0131nda t\u00fcretilen konuma \u00f6zg\u00fc d\u00fczeltme fakt\u00f6rlerini uygulamay\u0131 dikkate almal\u0131d\u0131r.<\/p>\n

96-Kuyu Pozisyonlar\u0131 Aras\u0131nda Absorbans Yanl\u0131l\u0131\u011f\u0131n\u0131n Uzamsal Haritalanmas\u0131<\/h3>\n

Her 96 kuyu pozisyonu i\u00e7in ham bo\u015f A260 de\u011ferinin sahte renk matrisi olarak \u00e7izilmesiyle olu\u015fturulan uzamsal absorbans \u0131s\u0131 haritas\u0131, tek bir \u00f6zet CV istatisti\u011finin yakalayamayaca\u011f\u0131 yap\u0131sal konumsal yanl\u0131l\u0131k modellerini ortaya koymaktad\u0131r. En s\u0131k g\u00f6zlenen model, absorbans de\u011ferlerinin plaka \u00e7evresinden merkeze do\u011fru monoton bir \u015fekilde 0,003-0,008 AU azald\u0131\u011f\u0131 radyal bir gradyand\u0131r.<\/strong>ta\u015flama geometrisine ba\u011fl\u0131 olarak plaka kenarlar\u0131nda biraz daha fazla kuyu dibi kal\u0131nl\u0131\u011f\u0131 ile tutarl\u0131d\u0131r.<\/p>\n

Yayg\u0131n olarak g\u00f6zlemlenen ikinci bir model ise sat\u0131r baz\u0131nda \u015feritleme eseri<\/strong>alternatif kuyu s\u0131ralar\u0131n\u0131n biti\u015fik s\u0131ralardan yakla\u015f\u0131k 0,002-0,004 AU kadar s\u00fcrekli olarak daha y\u00fcksek veya daha d\u00fc\u015f\u00fck bir ortalama A260 g\u00f6sterdi\u011fi. Bu model, belirli kanallarda kalibrasyon ofseti olan \u00e7ok kanall\u0131 pipet da\u011f\u0131t\u0131m\u0131n\u0131n karakteristik bir \u00f6zelli\u011fidir ve plakaya \u00f6zg\u00fc bir kusur de\u011fildir. Plaka kaynakl\u0131 ve pipetleme kaynakl\u0131 uzamsal desenleri ay\u0131rt etmek i\u00e7in farkl\u0131 bir pipet veya s\u0131v\u0131 i\u015fleme robotu ile bo\u015fluk doldurma i\u015fleminin tekrarlanmas\u0131 gerekir.<\/p>\n

Absorbans\u0131n sat\u0131r veya s\u00fctun indeksine kar\u015f\u0131 do\u011frusal regresyonunda R\u00b2 > 0,85 belirleme katsay\u0131s\u0131 g\u00f6steren herhangi bir uzamsal model sistematik, d\u00fczeltilebilir bir yanl\u0131l\u0131\u011fa i\u015faret eder<\/strong> rastgele g\u00fcr\u00fclt\u00fc olarak g\u00f6z ard\u0131 edilmek yerine yol uzunlu\u011fu d\u00fczeltme modeline dahil edilmelidir. Bu uzamsal haritan\u0131n do\u011frulama belgelerinde referans g\u00f6r\u00fcnt\u00fc olarak kaydedilmesi, her \u00fcretim partisinin kal\u0131c\u0131 bir parmak izini olu\u015fturarak temizleme ve yeniden kullan\u0131m d\u00f6ng\u00fclerinden sonra toplanan yeniden do\u011frulama verileriyle do\u011frudan kar\u015f\u0131la\u015ft\u0131rma yap\u0131lmas\u0131n\u0131 sa\u011flar.<\/p>\n

Temel Tekd\u00fczelik Kabul Parametreleri<\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Metrik<\/th>\nStandart Test<\/th>\nY\u00fcksek Hassasiyetli Test<\/th>\nRet Kriteri<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
260 nm'de kuyular aras\u0131 bo\u015f CV (%)<\/td>\n\u22642.0<\/td>\n\u22641.0<\/td>\n>3.0<\/td>\n<\/tr>\n
280 nm'de kuyular aras\u0131 bo\u015f CV (%)<\/td>\n\u22642.5<\/td>\n\u22641.2<\/td>\n>3.5<\/td>\n<\/tr>\n
Tek kuyu ayk\u0131r\u0131 de\u011fer e\u015fi\u011fi<\/td>\nOrtalama \u00b13 SD<\/td>\nOrtalama \u00b12 SD<\/td>\n>4'ten fazla ayk\u0131r\u0131 kuyu<\/td>\n<\/tr>\n
Kenardan merkeze gradyan (AU)<\/td>\n\u22640.010<\/td>\n\u22640.005<\/td>\n>0.015<\/td>\n<\/tr>\n
Bo\u015f ekilibrasyon s\u00fcresi (dak)<\/td>\n\u226510<\/td>\n\u226515<\/td>\n-<\/td>\n<\/tr>\n
Dolum hacmi hassasiyeti (\u00b5L)<\/td>\n\u00b11.0<\/td>\n\u00b10.5<\/td>\n\u00b12.0<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n
\n

\"Mikroplaka<\/p>\n

Kuvars 96 Kuyulu Plaka ile Optik Yol Uzunlu\u011fu Kalibrasyonu<\/h2>\n

Yol uzunlu\u011fu kalibrasyonu, mikroplaka UV do\u011frulamas\u0131n\u0131n teknik a\u00e7\u0131dan en zorlu bile\u015fenidir, \u00e7\u00fcnk\u00fc 96 kuyucuklu bir formattaki etkili optik yol, dolum hacminin, kuyu geometrisinin ve okuma modunun bir fonksiyonudur - bunlar\u0131n hi\u00e7biri k\u00fcvet tabanl\u0131 spektrofotometride varsay\u0131lan 1.000 cm standard\u0131nda sabit de\u011fildir.<\/p>\n

Mikroplaka Geometrisine Uygulanan Beer-Lambert Yasas\u0131<\/h3>\n

Beer-Lambert yasas\u0131 \u015funu belirtir A = \u03b5 \u00d7 c \u00d7 l<\/strong>Burada A absorbans, \u03b5 molar ekstinksiyon katsay\u0131s\u0131 (L-mol-\u00b9-cm-\u00b9), c konsantrasyon (mol-L-\u00b9) ve l yol uzunlu\u011fudur (cm). Standart 1 cm'lik bir k\u00fcvette l, k\u00fcvet geometrisi taraf\u0131ndan tan\u0131mlan\u0131r ve dolum hacminden ba\u011f\u0131ms\u0131z olarak sabittir. 96 kuyucuklu bir kuvars plakada d\u00fcz tabanl\u0131 bir kuyucuk 6,35 mm i\u00e7 \u00e7ap<\/strong>'de yol uzunlu\u011fu tamamen s\u0131v\u0131 kolonunun y\u00fcksekli\u011fi taraf\u0131ndan belirlenir ve bu da dolum hacmine g\u00f6re de\u011fi\u015fir.<\/p>\n

Standart d\u00fcz tabanl\u0131 96 kuyulu bir plakada 100 \u00b5L'lik bir dolum hacminde, teorik yol uzunlu\u011fu yakla\u015f\u0131k 0,32 cm'dir<\/strong> - k\u00fcvet standard\u0131n\u0131n kabaca \u00fc\u00e7te biri. Bu, k\u00fcvet tabanl\u0131 \u00f6l\u00e7\u00fcmler i\u00e7in tablola\u015ft\u0131r\u0131lan molar s\u00f6nme katsay\u0131s\u0131 de\u011ferlerinin (\u00f6rne\u011fin, ssDNA i\u00e7in n\u00fckleotid ba\u015f\u0131na \u03b5\u2082\u2086\u2080 = 6.600 L-mol-\u00b9-cm-\u00b9) \u015fu oranla \u00e7arp\u0131lmas\u0131 gerekti\u011fi anlam\u0131na gelir l_plaka \/ 1 cm<\/strong> mikroplaka format\u0131nda beklenen absorbans\u0131 vermek i\u00e7in. Bu d\u00f6n\u00fc\u015f\u00fcm\u00fcn uygulanmamas\u0131 bir 3,1 kat d\u00fc\u015f\u00fck tahmin<\/strong> k\u00fcvetten t\u00fcretilen s\u00f6nme katsay\u0131lar\u0131 yol uzunlu\u011fu d\u00fczeltmesi olmadan kullan\u0131ld\u0131\u011f\u0131nda konsantrasyon.<\/p>\n

Geometrik yol uzunlu\u011fu teorik bir de\u011ferdir ve menisk\u00fcs veya kuyu taban\u0131ndaki optik etkileri hesaba katmaz; bu nedenle belirli bir cihaz-plaka kombinasyonu i\u00e7in ger\u00e7ek etkili yol uzunlu\u011funu belirlemek i\u00e7in her zaman ampirik kalibrasyon gereklidir.<\/p>\n

Yol Uzunlu\u011fu D\u00fczeltmesi i\u00e7in KBS Y\u00f6ntemi<\/h3>\n

Sulu tahliller i\u00e7in en yayg\u0131n olarak benimsenen yol uzunlu\u011fu d\u00fczeltme y\u00f6ntemi, \u015fu noktada merkezlenen yak\u0131n k\u0131z\u0131l\u00f6tesi su absorpsiyon band\u0131n\u0131 kullan\u0131r 977 nm<\/strong>burada A\u2089\u2087\u2087, bilinen bir emicili\u011fe sahip yol uzunlu\u011fu ile orant\u0131l\u0131d\u0131r. 0,18 AU-cm-\u00b9<\/strong> 25\u00b0C'de saf su i\u00e7in. Bo\u015f d\u00fczeltilmi\u015f su referans\u0131n\u0131n absorbans\u0131 977 nm'de \u00f6l\u00e7\u00fclerek ve 0,18 AU-cm-\u00b9'ye b\u00f6l\u00fcnerek, santimetre cinsinden etkin yol uzunlu\u011fu do\u011frudan hesaplan\u0131r: l = A\u2089\u2087\u2087 \/ 0,18<\/strong>.<\/p>\n

Bu y\u00f6ntem, plaka okuyucunun 977 nm'de bir yak\u0131n k\u0131z\u0131l\u00f6tesi alg\u0131lama kanal\u0131 ile donat\u0131lmas\u0131n\u0131 gerektirir<\/strong>Tecan Infinite M200 Pro, BioTek Synergy Neo2 ve Molecular Devices SpectraMax i3x platformlar\u0131nda standart olan ancak uygun bant ge\u00e7i\u015f filtresi olmayan filtre tabanl\u0131 okuyucularda bulunmayan. 977 nm kanal\u0131 kullan\u0131lamad\u0131\u011f\u0131nda, d\u00fczeltme \u015fu \u015fekilde yakla\u015f\u0131k olarak hesaplanabilir 900 nm su band\u0131<\/strong> emicili\u011fi ile 0,053 AU-cm-\u00b9<\/strong>Bununla birlikte, \u00f6l\u00e7\u00fcm belirsizli\u011fi yakla\u015f\u0131k olarak \u00b14%<\/strong> ile kar\u015f\u0131la\u015ft\u0131r\u0131ld\u0131\u011f\u0131nda \u00b11.5%<\/strong> 977 nm y\u00f6ntemi i\u00e7in.<\/p>\n

KBS y\u00f6ntemi yaln\u0131zca a\u015fa\u011f\u0131dakiler i\u00e7in ge\u00e7erlidir su aktivitesi > 0,95 olan sulu tamponlar<\/strong>10%'den fazla organik \u00e7\u00f6z\u00fcc\u00fc (DMSO, etanol, metanol) i\u00e7eren numuneler, 977 nm absorptivite sabitini ge\u00e7ersiz k\u0131lan, \u00e7\u00f6z\u00fcc\u00fcye \u00f6zg\u00fc bir kalibrasyon e\u011frisi veya alternatif bir geometrik yol uzunlu\u011fu belirleme yakla\u015f\u0131m\u0131 gerektiren kaym\u0131\u015f bir su absorpsiyon spektrumu sergiler.<\/p>\n

Standart Dolum Hacimleri i\u00e7in Hacimden Yast\u0131k Uzunlu\u011funa D\u00f6n\u00fc\u015f\u00fcm<\/h3>\n

Standart D\u00fcz Tabanl\u0131 Kuvars Kuyularda Dolum Hacmine G\u00f6re Yol Uzunlu\u011fu<\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Dolum Hacmi (\u00b5L)<\/th>\nTeorik Yol Uzunlu\u011fu (cm)<\/th>\nKBS ile D\u00fczeltilmi\u015f Yol Uzunlu\u011fu (cm)<\/th>\n96 Kuyu Boyunca CV (%)<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
50<\/td>\n0.158<\/td>\n0.161 \u00b1 0.004<\/td>\n2.5<\/td>\n<\/tr>\n
100<\/td>\n0.315<\/td>\n0.320 \u00b1 0.005<\/td>\n1.6<\/td>\n<\/tr>\n
150<\/td>\n0.473<\/td>\n0.479 \u00b1 0.006<\/td>\n1.3<\/td>\n<\/tr>\n
200<\/td>\n0.630<\/td>\n0.638 \u00b1 0.007<\/td>\n1.1<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

Kuvarsda Art\u0131k \u00c7ift K\u0131r\u0131lma ve Gerilme Kaynakl\u0131 Optik Artefaktlar<\/h3>\n

Alev f\u00fczyonu veya sol-jel prosesleriyle \u00fcretilen erimi\u015f silika, kontroll\u00fc bir tavlama d\u00f6ng\u00fcs\u00fc kurgusal s\u0131cakl\u0131\u011f\u0131 dengeye yak\u0131n bir seviyeye d\u00fc\u015f\u00fcrmedi\u011fi s\u00fcrece cam a\u011f i\u00e7erisinde art\u0131k mekanik gerilimi muhafaza eder. Ticari olarak temin edilebilen kuvars mikroplakalarda 0,5-2,5 MPa'l\u0131k art\u0131k gerilme b\u00fcy\u00fckl\u00fckleri rapor edilmi\u015ftir<\/strong>'ye kar\u015f\u0131l\u0131k gelir. \u00e7ift k\u0131r\u0131lma<\/a>1<\/a><\/sup> geciktirme de\u011ferleri Optik yolun santimetresi ba\u015f\u0131na 3-15 nm<\/strong> - S\u00e9narmont kompansat\u00f6r\u00fc veya s\u0131v\u0131 kristal polarimetre ile \u00f6l\u00e7\u00fclebilir.<\/p>\n

Polarize edilmemi\u015f \u0131\u015f\u0131k kullanan standart yo\u011funluk bazl\u0131 absorbans \u00f6l\u00e7\u00fcmlerinde, \u00e7ift k\u0131r\u0131lma \u00f6l\u00e7\u00fclen A260 de\u011ferini do\u011frudan de\u011fi\u015ftirmez \u00e7\u00fcnk\u00fc her iki polarizasyon bile\u015feni de kromofor taraf\u0131ndan e\u015fit olarak absorbe edilir. Bununla birlikte, floresan anizotropisi i\u00e7in polarize uyar\u0131m kullanan cihazlarda - veya zaman zaman kuvars plakalar\u0131n kullan\u0131ld\u0131\u011f\u0131 UV dairesel dikroizm konfig\u00fcrasyonlar\u0131nda - \u00e7ift k\u0131r\u0131lma gecikmesi, g\u00f6r\u00fcn\u00fcr anizotropi de\u011ferlerini 5-12 mili-anizotropi birimi kadar \u015fi\u015firen sistematik bir polarizasyon rotasyonu ortaya \u00e7\u0131kar\u0131r<\/strong> 1,5 MPa'n\u0131n \u00fczerindeki gerilim seviyelerinde.<\/p>\n

Gerilme \u00e7ift k\u0131r\u0131lmas\u0131 muayenesi, plaka beyaz \u0131\u015f\u0131k ayd\u0131nlatmas\u0131 alt\u0131nda \u00e7apraz polariz\u00f6rler aras\u0131na yerle\u015ftirilerek ger\u00e7ekle\u015ftirilir; Stres sergileyen b\u00f6lgeler karanl\u0131k alana kar\u015f\u0131 parlak giri\u015fim sa\u00e7aklar\u0131 olarak g\u00f6r\u00fcn\u00fcr<\/strong>gerilimsiz alanlar ise e\u015fit derecede karanl\u0131k kal\u0131r. Kuyu taban\u0131 alan\u0131n\u0131n 10%'den fazlas\u0131nda giri\u015fim sa\u00e7aklar\u0131 g\u00f6steren plakalar polarizasyona duyarl\u0131 \u00f6l\u00e7\u00fcmler i\u00e7in reddedilmelidir, ancak standart yo\u011funlu\u011fa dayal\u0131 UV absorbans analizleri i\u00e7in kullan\u0131labilir kal\u0131rlar.<\/p>\n

Yol Uzunlu\u011fu Kalibrasyon Y\u00f6ntemi Kar\u015f\u0131la\u015ft\u0131rmas\u0131<\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Kalibrasyon Y\u00f6ntemi<\/th>\nGerekli Enstr\u00fcman \u00d6zelli\u011fi<\/th>\nBelirsizlik (%)<\/th>\nUygulanabilir \u00c7\u00f6z\u00fcc\u00fc<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
977 nm'de KBS<\/td>\n977 nm'de NIR kanal\u0131<\/td>\n\u00b11.5<\/td>\nSadece sulu<\/td>\n<\/tr>\n
900 nm'de KBS<\/td>\n900 nm'de NIR kanal\u0131<\/td>\n\u00b14.0<\/td>\nSadece sulu<\/td>\n<\/tr>\n
Geometrik hesaplama<\/td>\nKuyu \u00e7ap\u0131 \u00f6l\u00e7\u00fcm\u00fc<\/td>\n\u00b15-8<\/td>\nHerhangi bir<\/td>\n<\/tr>\n
Standart e\u011fri geri hesaplamas\u0131<\/td>\nHerhangi bir UV okuyucu<\/td>\n\u00b12.5<\/td>\nHerhangi bir<\/td>\n<\/tr>\n
977 nm'de KBS (organik olarak d\u00fczeltilmi\u015f)<\/td>\nNIR + \u00e7\u00f6z\u00fcc\u00fc kalibrasyonu<\/td>\n\u00b13.0<\/td>\nKar\u0131\u015f\u0131k sulu\/organik<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n
\n

\"260<\/p>\n

260 nm ve 280 nm Test Kalibrasyonu i\u00e7in Referans Standart Se\u00e7imi<\/h2>\n

Uygun referans standartlar\u0131n\u0131n se\u00e7ilmesi, tam do\u011frulama \u00e7al\u0131\u015fmas\u0131n\u0131n ger\u00e7ekle\u015ftirilmesinden \u00f6nceki son haz\u0131rl\u0131k ad\u0131m\u0131d\u0131r ve standart se\u00e7imi, do\u011frulanan y\u00f6ntemin tan\u0131nm\u0131\u015f bir metrolojik referansa g\u00f6re izlenebilir olup olmad\u0131\u011f\u0131n\u0131 do\u011frudan belirler.<\/p>\n

Buza\u011f\u0131 timus DNA's\u0131 (CT-DNA)<\/strong> iyi karakterize edilmi\u015f \u00e7ift sarmall\u0131 yap\u0131s\u0131, ticari olarak temin edilebilen sertifikal\u0131 stok \u00e7\u00f6zeltileri ve s\u00f6nme katsay\u0131s\u0131 nedeniyle 260 nm kalibrasyon i\u00e7in en yayg\u0131n kullan\u0131lan birincil standartt\u0131r. Baz \u00e7ifti ba\u015f\u0131na 6.600 L-mol-\u00b9-cm-\u00b9<\/strong> n\u00f6tr pH'da. Bununla birlikte, CT-DNA, A260\/A230 oran\u0131n\u0131 de\u011fi\u015ftiren GC i\u00e7eri\u011finde (tipik olarak 42-45%) lottan lota de\u011fi\u015fkenlik g\u00f6sterir ve bir \u03b5\u2082\u2086\u2080'de 3-5% varyasyonu<\/strong> Buna g\u00f6re, her yeni parti, bir \u00f6nceki sertifikal\u0131 partiye veya NIST SRM 2366b'ye (Bacillus subtilis genomik DNA) kar\u015f\u0131 \u00e7apraz do\u011frulamaya tabi tutulmal\u0131d\u0131r; bu da, a\u015fa\u011f\u0131daki birle\u015fik \u00f6l\u00e7\u00fcm belirsizli\u011fine sahip sertifikal\u0131 bir A260 de\u011feri sa\u011flar \u00b10,8%<\/strong>. Kesin olarak tan\u0131mlanm\u0131\u015f dizilere sahip sentetik oligon\u00fckleotid standartlar\u0131, test hedefi tan\u0131mlanm\u0131\u015f bir oligon\u00fckleotid oldu\u011funda daha y\u00fcksek hassasiyetli bir alternatif sunar, \u00e7\u00fcnk\u00fc \u03b5\u2082\u2086\u2080 en yak\u0131n-kom\u015fu termodinami\u011fi<\/a>2<\/a><\/sup> i\u00e7inde \u00b12%<\/strong> ve fosfor element analizi ile do\u011frulanm\u0131\u015ft\u0131r.<\/p>\n